Imaging TOF-SIMS for the surface analysis of silver halide microcrystals
Autor: | Lenaerts, J., Gijbels, R., Van Vaeck, L., Verlinden, G., Geuens, I. |
---|---|
Zdroj: | In Applied Surface Science 2003 203:614-619 |
Databáze: | ScienceDirect |
Externí odkaz: |
Autor: | Lenaerts, J., Gijbels, R., Van Vaeck, L., Verlinden, G., Geuens, I. |
---|---|
Zdroj: | In Applied Surface Science 2003 203:614-619 |
Databáze: | ScienceDirect |
Externí odkaz: |