Autor:	Hernandez-Como, N., Lopez-Castillo, M., Hernandez-Cuevas, F.J., Baez-Medina, H., Baca-Arroyo, R., Aleman, M.
Zdroj:	In Microelectronic Engineering 15 August 2019 216
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect