Autor:	Morvan, S., Andrieu, F., Leroux, C., Garros, X., Cassé, M., Martin, F., Gassilloud, R., Morand, Y., Le Royer, C., Besson, P., Roure, M.-C., Euvrard, C., Rivoire, M., Seignard, A., Desvoivres, L., Barnola, S., Allouti, N., Caubet, P., Weber, U., Baumann, P.K., Weber, O., Tosti, L., Perreau, P., Ponthenier, F., Ghibaudo, G., Poiroux, T.
Zdroj:	In Microelectronic Engineering September 2013 109:306-309
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect