Autor:	Fernández-Bolaños, M., Abelé, N., Pott, V., Bouvet, D., Racine, G-A., Quero, J.M., Ionescu, A.M.
Zdroj:	In Microelectronic Engineering 2006 83(4):1185-1188
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect