Autor:	Clavijo Cedeño, C. ^∗, Seekamp, J., Kam, A.P., Hoffmann, T., Zankovych, S., Sotomayor Torres, C.M., Menozzi, C., Cavallini, M., Murgia, M., Ruani, G., Biscarini, F., Behl, M., Zentel, R., Ahopelto, J.
Zdroj:	In Microelectronic Engineering 2002 61:25-31
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect