Thermal nano-probe
Autor: | Rangelow, I.W. ∗, Gotszalk, T., Grabiec, P., Edinger, K., Abedinov, N. |
---|---|
Zdroj: | In Microelectronic Engineering 2001 57:737-748 |
Databáze: | ScienceDirect |
Externí odkaz: |
Autor: | Rangelow, I.W. ∗, Gotszalk, T., Grabiec, P., Edinger, K., Abedinov, N. |
---|---|
Zdroj: | In Microelectronic Engineering 2001 57:737-748 |
Databáze: | ScienceDirect |
Externí odkaz: |