Scanning capacitance microscopy investigations of InGaAs/InP quantum wells
Autor: | Douhéret, O *, Maknys, K, Anand, S |
---|---|
Zdroj: | In Thin Solid Films 2004 459(1):67-70 |
Databáze: | ScienceDirect |
Externí odkaz: |
Autor: | Douhéret, O *, Maknys, K, Anand, S |
---|---|
Zdroj: | In Thin Solid Films 2004 459(1):67-70 |
Databáze: | ScienceDirect |
Externí odkaz: |