Metric learning via perturbing hard-to-classify instances

Autor:	Guo, Xinyao, Wei, Wei, Liang, Jianqing, Dang, Chuangyin, Liang, Jiye
Zdroj:	In Pattern Recognition December 2022 132
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect