Calibration methods and power cycling of double-side cooled SiC MOSFET power modules

Autor:	Lentzsch, T., Schwabe, C., Lutz, J., Basler, T.
Zdroj:	In Microelectronics Reliability November 2023 150
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect