Preconditioning of p-GaN power HEMT for reproducible Vth measurements

Autor:	Ghizzo, L., Trémouilles, D., Richardeau, F., Vinnac, S., Moreau, L., Mauran, N.
Zdroj:	In Microelectronics Reliability May 2023 144
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect