Temperature effects on the conducted emission of a high-side switch

Autor:	Baptistat, N., Dubois, T., Abouda, K., Duchamp, G.
Zdroj:	In Microelectronics Reliability November 2021 126
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect