Reliability prediction of FinFET FPGAs by MTOL

Autor:	Bender, E., Bernstein, J.B., Bensoussan, A.
Zdroj:	In Microelectronics Reliability November 2020 114
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect