Magnetic field and current density imaging using off-line lock-in analysis

Autor:	Kögel, M., Altmann, F., Tismer, S., Brand, S.
Zdroj:	In Microelectronics Reliability September 2016 64:346-351
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect