Mechanisms of metallization degradation in high power diodes

Autor:	Brincker, M., Kristensen, P.K., Pedersen, K.B., Popok, V.N.
Zdroj:	In Microelectronics Reliability September 2016 64:489-493
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect