200 V Fast Recovery Epitaxial Diode with superior ESD capability

Autor: Irace, A., Maresca, L., Mirone, P., Riccio, M., Breglio, G., Bellemo, L., Carta, R., Naretto, M., El Baradai, N., Para, I., Di Santo, N.
Zdroj: In Microelectronics Reliability September 2016 64:440-446
Databáze: ScienceDirect