Failure analysis on recovering low resistive via in mixed-mode device

Autor:	Castignolles, M., Goxe, J., Martin, R.
Zdroj:	In Microelectronics Reliability August-September 2015 55(9-10):1574-1578
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect