Autor:	Broll, Marian Sebastian ^{a, ⁎}, Geissler, Ute ^a, Höfer, Jan ^b, Schmitz, Stefan ^b, Wittler, Olaf ^b, Lang, Klaus Dieter ^a
Zdroj:	In Microelectronics Reliability May 2015 55(6):961-968
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect