An ESD test reduction method for complex devices

Autor:	Maksimovic, Dejan, Blanc, Fabrice, Notermans, Guido, Smedes, Theo, Keller, Thomas
Zdroj:	In Microelectronics Reliability 2009 49(12):1465-1469
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect