Light emission from Si/SiO 2 superlattices fabricated by RPECVD
Autor: | Rölver, R. ⁎, Winkler, O., Först, M., Spangenberg, B., Kurz, H. |
---|---|
Zdroj: | In Microelectronics Reliability 2005 45(5):915-918 |
Databáze: | ScienceDirect |
Externí odkaz: |
Autor: | Rölver, R. ⁎, Winkler, O., Först, M., Spangenberg, B., Kurz, H. |
---|---|
Zdroj: | In Microelectronics Reliability 2005 45(5):915-918 |
Databáze: | ScienceDirect |
Externí odkaz: |