Statistical estimation of delay in nano-scale CMOS circuits using Burr Distribution

Autor:	Moshrefi, Amirhossein, Aghababa, Hossein, Shoaei, Omid
Zdroj:	In Microelectronics Journal September 2018 79:30-37
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect