The quantitative 6H-SiC crystal damage depth profiling

Autor: Gloginjić, M., Erich, M., Kokkoris, M., Liarokapis, E., Fazinić, S., Karlušić, M., Tomić Luketić, K., Petrović, S.
Zdroj: In Journal of Nuclear Materials November 2021 555
Databáze: ScienceDirect