Significant aspects of minority-carrier injection in dynamic-threshold SOI MOSFET at low-temperature

Autor:	Omura, Yasuhisa, Tochio, Takayuki
Zdroj:	In Cryogenics 2009 49(11):611-614
Databáze:	ScienceDirect
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect