In situ characterization of stresses, deformation and fracture of thin films using transmission X-ray nanodiffraction microscopy. Corrigendum

Autor:	Gudrun Lotze, Anand H. S. Iyer, Olof Bäcke, Sebastian Kalbfleisch, Magnus Hörnqvist Colliander
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2024
Předmět:	nanodiffraction stress mapping in situ deformation nanoindentation sample environment Nuclear and particle physics. Atomic energy. Radioactivity QC770-798 Crystallography QD901-999
Zdroj:	Journal of Synchrotron Radiation, Vol 31, Iss 5, Pp 1409-1413 (2024)
Druh dokumentu:	article
ISSN:	1600-5775 16005775
DOI:	10.1107/S1600577524006283
Popis:	Errors in variable subscripts, equations and Fig. 8 in Section 3.2 of the article by Lotze et al. [(2024). J. Synchrotron Rad. 31, 42–52] are corrected.
Databáze:	Directory of Open Access Journals
Externí odkaz:	https://doaj.org/article/ff9bc3afeba84f9fa3bea9a068eabd68 Zobrazit plný text záznamu View record in DOAJ Plný text ve formátu PDF Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.