Autor:	Thilo Glatzel, Hendrik Hölscher, Thomas Schimmel, Mehmet Z. Baykara, Udo D. Schwarz, Ricardo Garcia
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2012
Předmět:	atomic force microscopy Technology Chemical technology TP1-1185 Science Physics QC1-999
Zdroj:	Beilstein Journal of Nanotechnology, Vol 3, Iss 1, Pp 893-894 (2012)
Druh dokumentu:	article
ISSN:	2190-4286
DOI:	10.3762/bjnano.3.99
Databáze:	Directory of Open Access Journals
Externí odkaz:	https://doaj.org/article/dfbb61671b424f76b0d6132cdfb05a0d Zobrazit plný text záznamu View record in DOAJ