Influence of the Metal Migration From Screen-and-Fired Terminations on the Electrical Characteristics of Thick-Film Resistors

Autor: M. Prudenziati, F. Forlani, M. Cocito, A. Cattaneo
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 1977
Předmět:
Zdroj: Active and Passive Electronic Components, Vol 4, Iss 3-4, Pp 205-211 (1977)
Druh dokumentu: article
ISSN: 0882-7516
1563-5031
DOI: 10.1155/APEC.4.205
Databáze: Directory of Open Access Journals
Externí odkaz: