Textura y Estrés: las aplicaciones olvidadas de la Difracción de Rayos X en materiales
| Autor: | Aitor Larrañaga Varga |
|---|---|
| Jazyk: | Spanish; Castilian |
| Rok vydání: | 2020 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Revista de Química, Vol 34, Iss 1-2 (2020) |
| Druh dokumentu: | article |
| ISSN: | 1012-3946 2518-2803 |
| Popis: | La cristalografía de rayos X resulta una técnica analítica fundamental para el estudio exhaustivo de la estructura cristalina de los materiales. A pesar de su enorme relevancia tanto a nivel científico como industrial, su cobertura respecto a análisis avanzados ha sido insuficiente hasta ahora. Por lo tanto, en este trabajo mostramos diferentes posibilidades de la difracción de rayos X, muy útil para obtener en algunos casos información crítica de nuestros materiales. |
| Databáze: | Directory of Open Access Journals |
| Externí odkaz: |
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