In-situ electrical characterization of MOSFET transistors using AFM-in-SEM solution

Autor: Novotny Ondrej, Strakos Libor, Patocka Marek, Schanilec Vojtech, Hegrova Veronika, Celano Umberto, Vystavel Tomas, Neuman Jan
Jazyk: English<br />French
Rok vydání: 2024
Předmět:
Zdroj: BIO Web of Conferences, Vol 129, p 24023 (2024)
Druh dokumentu: article
ISSN: 2117-4458
DOI: 10.1051/bioconf/202412924023
Databáze: Directory of Open Access Journals