Near-Infrared Triggered Degradation for Transient Electronics

Autor: Emin Istif, Mohsin Ali, Elif Yaren Ozuaciksoz, Yagız Morova, Levent Beker
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2024
Předmět:
Zdroj: ACS Omega, Vol 9, Iss 2, Pp 2528-2535 (2024)
Druh dokumentu: article
ISSN: 2470-1343
DOI: 10.1021/acsomega.3c07203
Databáze: Directory of Open Access Journals