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As diretrizes básicas de proteção radiológica em diagnóstico médico e odontológico do Ministério da Saúde publicada em 1998 seguiu as recomendações da Comissão Nacional de Energia Nuclear (CNEN) que tem como base as recomendações da Comissão Internacional de Proteção Radiológica (ICRP), da Organização Mundial de Saúde (WHO) e também da Agência Internacional de Energia Atômica (IAEA). Essas diretrizes consistem em um regulamento técnico que estabelecem requisitos básicos de proteção radiológica em radiodiagnóstico e disciplina a prática com os raios-X para fins diagnósticos e intervencionistas, visando a defesa da saúde dos pacientes, dos profissionais envolvidos e do público em geral. Parte desta norma determina que todo equipamento de raios-X diagnóstico deve ser mantido em condições adequadas de funcionamento e submetido regularmente a verificações de desempenho, ou seja, deve-se verificar a conformidade dos principais parâmetros envolvidos em testes periódicos para se garantir um controle de qualidade dos serviços prestados. A exatidão da tensão de tubo (kVp) e do tempo de exposição, o valor da Camada Semi-Redutora (CSR), e a reprodutibilidade da taxa de kerma são alguns parâmetros ou grandezas que devem ser mensurados em equipamentos convencionais de raios X diagnósticos, enquanto que o tamanho de campo de radiação e o número de pulsos são outros parâmetros associados aos equipamentos de raios X odontológicos. Na realidade, nem sempre é possível realizar um procedimento de medição para várias grandezas simultaneamente e isso fez com que nos últimos cinco anos diversas instituições internacionais desenvolvessem instrumentação para atender esse tipo de necessidade. Nesta comunicação, pretende-se apresentar metodologias inovadoras de um sistema de instrumentação de multi-medição dos seguintes parâmetros: CSR, kVp, kerma no ar, taxa de kerma, tempo de exposição, tamanho de campo e o número de pulsos de raios X. Assim, o instrumento se aplica tanto para mensurar alguns parâmetros de equipamentos de raios X convencionais como de equipamentos odontológicos. As metodologias utilizadas são baseadas em modernas técnicas eletrônicas de medição com sensores de raios X não convencionais, como o transistor bipolar de junção (TBJ) polarizado com determinados sinais elétricos. De fato, a polarização adequada permite mensurar cada parâmetro ou grandeza a partir da interferência dos fótons no dispositivo convertendo o sinal de saída do TBJ em um sinal modulado pela interação da radiação. O sinal de saída é então tratado por um microprocessador para ser convertido na grandeza ou parâmetro de avaliação do equipamento de raios-X. Os resultados mostram que o sistema multi-medição proposto apresenta uma incerteza relativa 1% e 5% para os parâmetros kVp e CSR, respectivamente, para os equipamentos de radiografia convencionais, e de menos que 1% para o tempo de exposição em equipamentos de raios X odontológicos. O sistema proposto traz inovação ao estado da técnica e tem caráter metrológico proporcionando ser aplicado ao controle de qualidade de equipamentos de raios X diagnósticos. |
