Refletividade em Espelhos de Bragg de AlGaAsSb/AlAsSb sobre InP

Autor:	Dari de Oliveira Toginho Filho, Ivan Frederico Lupiano Dias, José Leonil Duarte, Sidney Alves Lourenço, Luiz Carlos Poças, Edson Laureto, Bernard Nabet, Jean C. Harmand
Jazyk:	English<br />Portuguese
Rok vydání:	2004
Předmět:	Semicondutores Refletividade Espelho de Bragg AlGaAsSb AlAsSb. Technology (General) T1-995 Science (General) Q1-390
Zdroj:	Semina: Ciências Exatas e Tecnológicas, Vol 24, Iss 1 (2004)
Druh dokumentu:	article
ISSN:	1679-0375 1676-5451
DOI:	10.5433/1679-0375.2003v24n1p69
Popis:	Analisamos neste trabalho, a refletividade de um espelho de Bragg composto por materiais da família do antimônio (AlGaAsSb/AlAsSb) dopado com telúrio. As amostras foram preparadas através da técnica de epitaxia por feixe molecular MBE (Molecular Beam Epitaxy) e as medidas de refletividade pela técnica de espectroscopia de infravermelho por transformada de Fourier FTIR (Fourier Transform Infra- Red). Para discussão das propriedades do espelho de Bragg comparamos a refletividade obtida experimentalmente e uma simulação baseada no formalismo matricial.
Databáze:	Directory of Open Access Journals
Externí odkaz:	https://doaj.org/article/8616f40f9b264988ad2fdd400a9d5393 Zobrazit plný text záznamu View record in DOAJ