Cracks observed to propagate discontinuously on the millisecond timescale

Autor:	Brian K. Tanner
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2016
Předmět:	silicon wafers crack propagation X-ray diffraction imaging phase-contrast X-ray imaging time-resolved studies Crystallography QD901-999
Zdroj:	IUCrJ, Vol 3, Iss 2, Pp 86-87 (2016)
Druh dokumentu:	article
ISSN:	2052-2525 20522525
DOI:	10.1107/S2052252516002359
Databáze:	Directory of Open Access Journals
Externí odkaz:	https://doaj.org/article/84ed9260bb624a5da9ee693781476e61 Zobrazit plný text záznamu View record in DOAJ