Investigação do comportamento eletrocrômico de filmes finos de Nb2O5 por método quimiométrico
| Autor: | A. V. Rosário, E. C. Pereira |
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| Jazyk: | English<br />Portuguese |
| Rok vydání: | 1999 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Cerâmica, Vol 45, Iss 291, Pp 41-44 (1999) |
| Druh dokumentu: | article |
| ISSN: | 1678-4553 0366-6913 |
| DOI: | 10.1590/S0366-69131999000100008 |
| Popis: | Filmes de Nb2O5 eletrocrômicos foram produzidos através do método de Pechini e deposição por "dip-coating". A influência das condições de preparação sobre as propriedades do material foi investigada por um planejamento fatorial fracionário com base em oito variáveis. Os filmes tiveram suas propriedades eletrocrômicas investigadas por medidas de voltametria cíclica e espectrofotometria UV-Vis "in situ", em solução de acetonitrila contendo LiClO4 0,1 M como eletrólito suporte. Durante a redução, uma coloração azul é observada no eletrodo eletrocrômico. Este processo de coloração está associado à redução Nb5+ ® Nb4+ e à intercalação de íons Li+ na matriz do óxido, sendo que uma densidade de carga superior a 45 mC/cm2 foi obtida durante varredura catódica à v=10 mV/s. O mesmo filme mostrou boa reversibilidade óptica, com variação de transmitância de aproximadamente 60%. As medidas de difração de raios X revelam que os filmes que apresentaram melhor resposta eletrocrômica são aqueles que possuem maior caráter cristalino. As variáveis de composição da resina são os fatores de maior influência sobre as propriedades dos filmes de Nb2O5. |
| Databáze: | Directory of Open Access Journals |
| Externí odkaz: |
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