Breaking the limits of functional Atomic Force Microscopy imaging using Focused Electron Beam Induced Deposition
| Autor: | Brugger-Hatzl Michele, Seewald Lukas, Winkler Robert, Kuhness David, Huth Michael, Barth Sven, Plank Harald |
|---|---|
| Jazyk: | English<br />French |
| Rok vydání: | 2024 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | BIO Web of Conferences, Vol 129, p 10002 (2024) |
| Druh dokumentu: | article |
| ISSN: | 2117-4458 20241291 |
| DOI: | 10.1051/bioconf/202412910002 |
| Databáze: | Directory of Open Access Journals |
| Externí odkaz: |
|