Non-destructive in situ analysis of garnet by combining scanning electron microscopy and X-ray diffraction techniques

Autor: John Deiver Bonilla-Jaimes, Jose Antonio Henao-Martínez, Carolina Mendoza-Luna, Oscar Mauricio Castellanos-Alarcón, Carlos Alberto Ríos-Reyes
Jazyk: English<br />Spanish; Castilian
Rok vydání: 2016
Předmět:
Zdroj: Dyna, Vol 83, Iss 195, Pp 84-92 (2016)
Druh dokumentu: article
ISSN: 0012-7353
2346-2183
DOI: 10.15446/dyna.v83n195.46360
Popis: Mediante el uso de la difracción de rayos-X de polvo (DRXP), microdifracción de rayos-X (mDXR) y microscopía electrónica de barrido, la caracterización estructural de minerales resulta ser mucho más fiable y precisa. La identificación y cuantificación elemental y composicional de los minerales mediante estas técnicas no destructivas, mejoran la calidad de los resultados y permiten realizar un análisis completo del material. Los datos obtenidos mediante estas técnicas revelaron la presencia de granate tipo espesartina, además de los elementos y compuestos trazas que conforman el material en general. El refinamiento estructural de la espesartina fue realizado mediante el método Rietveld a partir de los datos obtenidos por difracción convencional y con ayuda del software de análisis MDI RIQAS. Con los datos adquiridos por mDXR usando un detector de área, un menor tiempo de exposición (comparado con el requerido en detectores 0D y 1D) y sin la necesidad de la disminución del tamaño de partícula del mineral, fue posible la identificación de la espesartina y otros compuestos en menor concentración (mediciones "in situ"). Mediante la combinación de las técnicas de microscopía electrónica de barrido y microdifracción de rayos X, tanto de trabajo desde un punto de vista de la caracterización. El examen por difracción de micro-rayos X no requiere la separación física de la muestra. Usando esta información y las técnicas analíticas avanzadas anteriores, la identificación de granate puede ser mucho más fiable.
Databáze: Directory of Open Access Journals
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