Pengukuran Kristalinitas Silika berdasarkan Metode Difraktrometer Sinar-X
| Autor: | N.R. Herdianita, Ong H.L., E.A. Subroto, B. Priadi |
|---|---|
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2019 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Journal of Mathematical and Fundamental Sciences, Vol 31, Iss 1 (2019) |
| Druh dokumentu: | article |
| ISSN: | 2337-5760 2338-5510 |
| Popis: | Sari. Mineralogi dan derajat kristalinitas mineral silika non- dan mikrokristalin dapat ditentukan dengan metode difraktometer sinar-X, yaitu dengan mengukur lebar peak atau hump pada setengah intensitas-maksimum difraksi pada posisi sekitar 4 Ã…. Hasil optimum pengukuran kristalinitas diperoleh bila sampel silika kering berukuran butir 75 hingga 106 μm dipreparasi pada cetakan aluminium dan dianalis mulai 10 hingga 40°2θ dengan kecepatan goniometer 0,6°2θ/menit dan interval pencatatan 0,01°. Prosedur seperti ini akan mempunyai kesalahan tidak lebih dari 0,3°2θ. Measurement of Silica Crystallinity Using X-Ray Diffraction Method Abstract. Mirralogy and the degree of crystallinity of non- and microcrystalline silica could be determined using the X-ray diffraction method, i.e. by measuring the half-width peak or hump at about 4 Ã…. The optimum and most reproducible results were obtained when dry silica sample powder having a grain size of 75 to 106 μm was prepared at the aluminium holder and scanned from 10 to 40°2θ using goniometer speed of 0.6°2θ and a step size of 0.01°. This procedure will give an experimental error less than 0.3°2θ. |
| Databáze: | Directory of Open Access Journals |
| Externí odkaz: |
|