| Autor: |
Morante, J. R., Cornet, A., Peiró, F., Arbiol, J., Rossinyol, E., Brinzari, V., Korotcenkov, G., Golovanov, V. |
| Jazyk: |
English<br />Spanish; Castilian |
| Rok vydání: |
2004 |
| Předmět: |
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| Zdroj: |
Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio, Vol 43, Iss 2, Pp 510-513 (2004) |
| Druh dokumentu: |
article |
| ISSN: |
0366-3175 |
| Popis: |
Nanostructural characteristics of polycrystalline SnO2 thin films determine their psychical and chemical properties as semiconductor gas sensor. Tin oxide thin films obtained by spray pyrolysis deposition on glass substrates have been studied (35nm - 300nm). We have studied the influence of the pyrolysis temperature (300ºC - 530ºC) on the crystallographic structure of the films. These samples have been characterised by X-ray diffraction, and high-resolution transmission electron microscopy. Some atomic models of growing have been proposed, with a double pyramidal structure and rhombic base.Las características nanoestructurales de las capas finas policristalinas de SnO2 determinan sus propiedades físicas y químicas como material sensor de gas. Se han analizado un conjunto de muestras (35nm - 300nm) crecidas por pirólisis en fase aerosol sobre substratos de vidrio, estudiando la influencia de la temperatura de pirólisis (375ºC - 530ºC) en la estructura cristalina de las capas. Estas muestras han sido caracterizadas mediante difracción de rayos X y microscopia electrónica de transmisión de alta resolución. Se han propuesto modelos atómicos de crecimiento, de estructura doble piramidal truncada y base rómbica, para las diferentes temperaturas de depósito. |
| Databáze: |
Directory of Open Access Journals |
| Externí odkaz: |
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