Reduction of Random Dopant Fluctuation-induced Variation in Junctionless FinFETs via Negative Capacitance Effect

Autor:	B. Liu, X. Chen, Z. Xie, M. Guo, M. Zhao, W. Lü
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2021
Předmět:	random dopant fluctuations (rdf) negative capacitance effect junctionless finfets monte carlo analysis Electronics TK7800-8360
Zdroj:	Informacije MIDEM, Vol 51, Iss 4, Pp 253-259 (2021)
Druh dokumentu:	article
ISSN:	0352-9045 2232-6979
DOI:	10.33180/InfMIDEM2021.405
Databáze:	Directory of Open Access Journals
Externí odkaz:	https://doaj.org/article/5157f6d6a859471691c004533be51fbc Zobrazit plný text záznamu View record in DOAJ