Autor: |
Laurent Le Ber, Patrick Recolin, Guillaume Fauveau, Antoine Hegron |
Jazyk: |
German<br />English<br />Spanish; Castilian<br />French<br />Italian |
Rok vydání: |
2023 |
Předmět: |
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Zdroj: |
e-Journal of Nondestructive Testing, Vol 28, Iss 9 (2023) |
Druh dokumentu: |
article |
ISSN: |
1435-4934 |
DOI: |
10.58286/28522 |
Popis: |
Depuis quelques années, Naval Group s'approprie la technologie de Focalisation en Tous Points (FTP plus connue sous son acronyme anglais TFM) en l'appliquant progressivement à ses cas industriels. Deux applications sont présentées dans cet article : – une utilisation de la TFM pour les mesures de profilométrie interne de composants, – une utilisation de la TFM pour le contrôle d'une soudure de forte épaisseur. Pour chaque cas, l'application est décrite et les comparaisons entre différentes techniques ultrasonores sont effectuées. Une analyse des gains potentiels est présentée. Des explications physiques utilisant la simulation CIVA sont proposées. Les éventuels inconvénients sont aussi discutés. |
Databáze: |
Directory of Open Access Journals |
Externí odkaz: |
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