Nanoscale Microstructural Analyses by Atom Probe Field Ion Microscopy

Autor:	Hono, K., Murayama, M.
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	1998
Předmět:	Technology Chemical technology TP1-1185 Chemicals: Manufacture use etc. TP200-248
Zdroj:	High Temperature Materials and Processes, Vol 17, Iss 1-2, Pp 69-86 (1998)
Druh dokumentu:	article
ISSN:	0334-6455 2191-0324
DOI:	10.1515/HTMP.1998.17.1-2.69
Databáze:	Directory of Open Access Journals
Externí odkaz:	https://doaj.org/article/405f4afe96e14fa7a97eba38196aa65f Zobrazit plný text záznamu View record in DOAJ