| Autor: |
Vandri Ahmad Isnaini, Rahmi Putri Wirman, Shabri Putra Wirman, Hayyu Salma |
| Jazyk: |
English<br />Indonesian |
| Rok vydání: |
2020 |
| Předmět: |
|
| Zdroj: |
Jurnal Fisika, Vol 10, Iss 2, Pp 42-49 (2020) |
| Druh dokumentu: |
article |
| ISSN: |
2088-1509 |
| DOI: |
10.15294/jf.v10i2.25709 |
| Popis: |
Telah dilakukan penelitian tentang penentuan dan analisis nilai resistivitas thin film dengan identifikasi ukuran sampel menggunakan metode image processing. Penelitian ini berupa perancangan, pengembangan, percobaan, dan analisis data percobaan. Analisis data percobaan dilakukan untuk melihat tingkat akurasi pada alat ini. Sampel yang diukur adalah thin film berbahan dasar Nikel Kobalt. Dari hasil percobaan, didapatkan bahwa alat ini bekerja dengan baik, walaupun digunakan untuk pengukuran sampel ukuran kecil. Alat juga memberikan data resistivitas yang akurat, dengan deviasi data yang kecil dibandingkan dengan data pengukuran secara manual. Pola yang dihasilkan dari hasil pengukuran alat ini dapat memberikan kesimpulan tentang pengaruh resistivitas terhadap variasi komposisi bahan dasar thin film. |
| Databáze: |
Directory of Open Access Journals |
| Externí odkaz: |
|
