Метод визначення електричних параметрів діодів Шотткі
Autor: | O. V. Tsukanov, O. H. Dramaretskyi, Yurii Viktorovych Didenko, Dmytro Dmytrovych Tatarchuk |
---|---|
Jazyk: | English<br />Ukrainian |
Rok vydání: | 2021 |
Předmět: | |
Zdroj: | Mìkrosistemi, Elektronìka ta Akustika, Vol 26, Iss 3 (2021) |
Druh dokumentu: | article |
ISSN: | 2523-4455 2523-4447 |
DOI: | 10.20535/2523-4455.mea.239868 |
Popis: | У статті розглянуто методику визначення за ВАХ таких електричних параметрів діодів Шотткі, як висота потенціального бар'єра, коефіцієнт неідеальності, струм насичення та послідовний опір матеріалу та контактів, а також фактори, які впливають на точність визначення цих параметрів. Розглянуто існуючі методики визначення вказаних параметрів діодів Шотткі та проаналізовано їх переваги та недоліки. Представлено нову методику визначення електричних параметрів діодів Шотткі, яка має мінімальне середньоквадратичне відхилення і забезпечує більшу точність розрахунків, ніж існуючі методики. |
Databáze: | Directory of Open Access Journals |
Externí odkaz: |