EVALUACIÓN DE TENSIONES RESIDUALES EN DISCOS COMPACTOS MEDIANTE EL MÉTODO FOTOELÁSTICO
| Autor: | M. Llosa D., J. Gómez B., M. Zapata B., C. Aparicio Q., D. Guillena, L. Zapata A. |
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| Jazyk: | English<br />Spanish; Castilian |
| Rok vydání: | 2005 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Revista de Investigación de Física, Vol 8, Iss 01 (2005) |
| Druh dokumentu: | article |
| ISSN: | 1605-7724 1728-2977 |
| DOI: | 10.15381/rif.v8i01.8840 |
| Popis: | La tensión residual y la orientación molecular en un material proporcionan información importante de su comportamiento. La presencia o ausencia de tensión residual determina la calidad de los plásticos usados para el almacenamiento de información y otros. En el presente trabajo, se implementó un método de ensayo no destructivo para la evaluación de los discos compactos, así como el almacenamiento de información en los mismos mediante el análisis óptico de tensión residual. Además se hizo un análisis cuantitativo del estado de tensión de diferentes marcas de CD. |
| Databáze: | Directory of Open Access Journals |
| Externí odkaz: |
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