Подтверждение методом картирования тока, наведенного электронным пучком, самопроизвольного легирования GaN нитевидных нанокристаллов из вицинальной подложки SiC/Si

Autor: Родион Романович Резник, Владислав Олегович Гридчин, Константин Павлович Котляр, Владимир Владимирович Неплох, Андрей Викторович Осипов, Сергей Арсеньевич Кукушкин, Omar Saket, Maria Tchernycheva, Георгий Эрнстович Цырлин
Jazyk: English<br />Russian
Rok vydání: 2023
Předmět:
Zdroj: Конденсированные среды и межфазные границы, Vol 25, Iss 4 (2023)
Druh dokumentu: article
ISSN: 1606-867X
DOI: 10.17308/kcmf.2023.25/11474
Popis: Данная работа посвящена подтверждению спонтанного легирования GaN нитевидных нанокристаллов, выращенных на вицинальных гибридных подложках SiC/Si, методом картирования тока, наведенного электронным пучком. Нитевидные нанокристаллы (ННК) GaN выращивались на сингулярных и вицинальных подложках SiC/Si методом молекулярно-пучковой эпитаксии с плазменной активацией азота. Морфологические свойства нитевидных нанокристаллов исследуются методами растровой электронной микроскопии. Электрофизические свойства выращенных наноструктур исследуются методом картирования тока, наведенного электронным пучком. Методом картирования тока, наведенного электронным пучком, нами было подтверждено спонтанное легирование GaN ННК, выращенных на вицинальных пластинах SiC/Si. В свою очередь, было показано, что выращенные на сингулярных подложках SiC/Si GaN ННК не демонстрирует сигнала наведённого тока, что указывает на отсутствие легирования в таком ННК
Databáze: Directory of Open Access Journals