بررسی اثرِ دمای زیر لایه و بازپُخت بر خواصِّ ساختاری و اپتیکی لایههای نازکِ سِلِنیدِ روی رشد داده شده به روشِ تجزیۀ گرمایی افشانهای
| Autor: | مونس ثابتی, محمد ابراهیم قاضی, مرتضی ایزدی فرد |
|---|---|
| Jazyk: | perština |
| Rok vydání: | 2015 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | فیزیک کاربردی ایران, Vol 5, Iss 1, Pp 31-37 (2015) |
| Druh dokumentu: | article |
| ISSN: | 2783-1043 2783-1051 |
| DOI: | 10.22051/jap.2015.1800 |
| Popis: | لایههای نازکِ سِلِنیدِ روی بر روی زیر لایۀ شیشهای در دماهای زیر لایۀ ºC 380 و 400 به روشِ تجزیۀ گرمایی افشانهای لایه نشانی و سپس در دمای ºC400 بازپُخت شدند. ساختارِ نمونهها با استفاده از طیفهای XRD و خواصِّ اپتیکی آن ها با استفاده از طیف سنجی نوری UV-Vis موردِ مشخّصه یابی قرار گرفت. مطالعۀ طرحِ پراش نشان داد که نمونهها قبل از بازپُخت دارای ساختارِ آمورف با اندکی فازِ اکسیدِ روی هستند امّا بعد از بازپُخت، مطالعاتِ اپتیکی نشان داد که گافِ نواری نمونهها کاهش و به مقدارِ گافِ نواری سِلِنیدِ روی میل می کند. نمونه با دمای زیر لایۀ ºC 400 بعد از بازپُخت به صورتِ بس بلوری و با راستای ترجیحی (111) رشد یافته است. |
| Databáze: | Directory of Open Access Journals |
| Externí odkaz: |
|