Qubit gate quality loss through circuit parasitics and noise : (Tutorial)

Autor:	Geck, Lotte, van Waasen, Stefan
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2021
Předmět:	Elektrotechnik
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=unidue___bib::c1bc8130a286254b34bef5aa3cf2759f https://www.scopus.com/inward/record.url?partnerID=HzOxMe3b&origin=inward&scp=85117383770 Zobrazit plný text záznamu