ПРИМЕНЕНИЕ СТАТИСТИЧЕСКИХ МЕТОДОВ ДЛЯ АНАЛИЗА СЛОЖНЫХ РЕЛАКСАЦИОННЫХ СПЕКТРОВ – КАК СПОСОБ УЛУЧШЕНИЯ МЕТОДИКИ DLTS

Jazyk: ukrajinština
Rok vydání: 2019
Předmět:
Zdroj: Сенсорна електроніка і мікросистемні технології; Том 16, № 4 (2019); 72-80
Сенсорная электроника и микросистемные технологии; Том 16, № 4 (2019); 72-80
Sensor Electronics and Microsystem Technologies; Том 16, № 4 (2019); 72-80
ISSN: 1815-7459
2415-3508
Popis: Створено апаратну платформу для підтримки кількох методик, яка дозволяє окрім дослідження параметрів глибокорівневих дефектів (DLTS), одержати температурні залежності форми C-V та I-V-характеристик. Розроблено алгоритми застосування статистичних методів для обробітку експериментальних даних для методики DLTS. Результати тестування програмного продукту засвідчили високу точність декомпозиції складного релаксаційного спектру і високу стійкість до амплітуди шумів.
Разработано и создано аппаратную платформу для поддержки нескольких методик, которая позволяет кроме исследования параметров глубокоуровневых дефектов (DLTS), получать температурные зависимости вида C-V и I-V-характеристик. Разработан алгоритм применения статистических методов для обработки экспериментальных данных для методики DLTS. Результаты тестирования программного продукта засвидетельствовали высокую точность декомпозиции сложного релаксационного спектра и высокую стойкость к амплитуде шумов
Hardware platform with support of several techniques that allows, along with studying of a deep level defects’ parameters (DLTS), to obtain temperature dependencies of C-V and I-V characteristics has been developed and manufactured. Algorithm of a statistical methods’ application for processing of experimental DLTS data has been developed. Testing results shows high precision of a complex relaxation spectrum decomposition and high stability to noise level.
Databáze: OpenAIRE