Interfacial Layer Engineering to Enhance Endurance and Noise Immunity of FeFETs for IMC Applications

Autor:	Y. Raffel, S. Thunder, M. Lederer, R. Olivo, R. Hoffmann, L. Pirro, S. Beyer, T. Chohan, P.T. Huang, S. De, T. Kämpfe, K. Seidel, J. Heitman
Rok vydání:	2022
Zdroj:	International Conference on IC Design and Technology (ICICDT)
DOI:	10.1109/icicdt56182.2022.993311
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=r3c4b2081b22::f6ceab3cf91916958347d678a5162181 Zobrazit plný text záznamu