Crystallization properties of melt-quenched Ge-rich GeSbTe thin films for phase change memory applications

Autor: S. M. S. Privitera, I. López García, C. Bongiorno, V. Sousa, M. C. Cyrille, G. Navarro, C. Sabbione, E. Carria, E. Rimini
Rok vydání: 2020
Zdroj: Journal of Applied Physics
ISSN: 0021-8979
DOI: 10.1063/5.0023696
Databáze: OpenAIRE