Characterization of wafer-scale CVD graphene grown on sapphire and SiC: a direct comparison

Autor:	Jakub Sitek, Clifford McAlesee , Ben Conran , Iwona Pasternak , Karolina Czerniak-Losiewicz, Mariusz Zdrojek , Ken Teo, Wlodek Strupinski
Rok vydání:	2019
DOI:	10.5281/zenodo.3475140
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=r3c4b2081b22::6d2758ef8ab73a7ce9666ecdf73db4d7 Zobrazit plný text záznamu