[Proton-excited characteristic x-ray emission--a new method for trace analysis]

Autor:	R, Akselsson, T B, Johansson, S A, Johansson
Rok vydání:	1972
Předmět:	Semiconductors Air Spectrum Analysis Methods Water Protons Trace Elements
Zdroj:	Nordisk hygienisk tidskrift. 53(1)
ISSN:	0029-1374
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=pmid________::aad5123222bdcce162f4c607cbc79874 https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/5069880 Zobrazit plný text záznamu